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IM7581 阻抗分析仪


测量频率100kHz-300MHz阻抗分析仪

所属分类:

日置HIOKI

元器件参数测试

品牌:

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    • 品牌: 日置HIOKI
    • 商品名称: IM7581 阻抗分析仪

    测量频率100kHz-300MHz阻抗分析仪

    测量频率100kHz~300MHz 测量时间:最快0.5ms 基本精度±0.72%rdg. 主机大小仅机架一半 丰富的接触检查功能

    ● 测量频率100kHz~300MHz
    ● 测量时间:最快0.5ms
    ● 基本精度±0.72%rdg.
    ● 测量方式:RF I-V法
    ● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
    ● 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
    ● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

    主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A专用的测试治具。

  • 基本参数

    测量模式 LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量
    测量参数 Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
    精度保证范围 100 mΩ~5 kΩ
    显示范围 Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
    Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
    θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
    D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
    G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
    基本精度 Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
    测量频率 100 kHz~300 MHz (10 Hz~10 kHz步进)
    测量信号电平 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm
    电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms
    电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms
    输出阻抗 50 Ω (10 MHz时)
    显示 彩色TFT8.4英寸、触屏
    测量时间 最快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值)
    功能 接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿
    接口 EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN
    RS-232C (选件), GP-IB (选件)
    电源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
    体积和重量 主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg
    测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g
    附件 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1
  • HIOKI LCR测试仪系列产品样本

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