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IM3570 阻抗分析仪


1台仪器实现不同测量条件下的高速检查

所属分类:

日置HIOKI

元器件参数测试

品牌:

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    • 品牌: 日置HIOKI
    • 商品名称: IM3570 阻抗分析仪

    1台仪器实现不同测量条件下的高速检查

    测量|Z|、L、C、R 测量频率4Hz~5MHz 测量时间:0.5ms 同时进行扫频测量和LCR测量

    ● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
    ● LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
    ● 基本精度±0.08%的高精度测量
    ● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
    ● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
    ● 可以用于无线充电评价系统TS2400
    ● 搭配4ch扫描模块机架,更能实现2MHz阻抗的4ch测量

    主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。

  • 基本参数

    测量模式 LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量
    测量参数 Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q
    测量量程 100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定)
    显示范围 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示绝对值
    θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)
    Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%)
    基本精度 Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°
    测量频率 4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进)
    测量信号电平 V模式,CV模式(普通模式)
    50mV~1Vrms,1mVrms步进(1MHz以下)
    10mV~1Vrms,1mVrms步进(1.0001MHz以上)
    CC模式(普通模式)
    10μA~50mA rms,10μA rms步进(1MHz以下)
    10μA~10mA rms,10μA rms步进(1.0001MHz以上)
    输出阻抗 普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω
    显示 彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF
    测量时间 0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值)
    测量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2
    其他功能 DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能
    接口 EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN
    电源 AC90~264V,50/60Hz,最大150VA
    打印 拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)
    接口 GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)
    电源 AC90~264V,50/60Hz,最大150VA
    体积和重量 330W×119H×307Dmm,5.8kg
    附件 电源线×1,使用说明书×1,通讯手册×1
  • HIOKILCR测试仪系列样本

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