Keithley 2600B 系列系统 SMU ：单或双通道系统
半导体生产测试； 半导体器件设计； 晶体管检定； IDDQ 测试与待机电流测试； 多针装置测试
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电源
吉时利KEITHLEY
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- 品牌: 吉时利KEITHLEY
- 商品名称: Keithley 2600B 系列系统 SMU ：单或双通道系统
半导体生产测试； 半导体器件设计； 晶体管检定； IDDQ 测试与待机电流测试； 多针装置测试
Keithley 2600B 系列系统 SMU 仪器是业界标准电流-电压源和测量解决方案，适用于高度自动化生产测试应用。
双通道和单通道型号都紧密集成一个精密电源、真正电流源、数字万用表和具有脉冲生成功能的电子负载。
另外，TSP® 技术可运行完整测试程序，适用于自动化系统应用，TSP-链路®技术允许菊花式链接最多 64 条通道，适用于大容量并行测试。
通道数
2 或 1
最小 V/I 脉冲源
<100 µs
0.1% 稳定V/I 范围
0.1 fA 至 10 A，
100 nV 至 200 V最大速度
20k 个读数/秒到缓冲
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完整的生产测试，无需牺牲空间
满足您的所有生产测试需求，在同一空间内有两条完全隔离的宽动态源和测量通道。 每条 40 W 通道提供 6½ 位精确分辨率源，在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内，测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
特点
- 在同一空间内可有 2 条通道
- 最宽的电压和电流动态范围
- 高度准确的 100 µs 脉冲可扩展直流生产测试能力
嵌入式脚本提供无与伦比的生产吞吐量
满足您的所有生产测试需求，在同一空间内有两条完全隔离的宽动态源和测量通道。 每条 40 W 通道提供 6½ 位精确分辨率源，在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内，测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
特点
- 消除与 PC 之间耗时的总线通信
- 高级数据处理和流量控制
- 通用型探头/处理程序控制
系统性能，无主机
TSP-Link® 技术支持扩展多达 64 条通道，支持高速、SMU-per-pin 并行测试（而不使用主机）。 <500 ns 时所有通道同时独立受控。
特点
- 支持 <500 ns 通道间同步
- 可达 32 条或 64 条独立 SMU 通道
- 随着测试要求变化轻松重新配置
适合生产的最佳低电流性能
2635B 和 2636B SMU 在最低 100 pA 范围内提供 0.1 fA、10-16 分辨率，减少超低电平样本检定烦恼，确保生产成功。
特点
- 在最低电流范围内稳定时间快 7 倍
- 具有市面上的最佳低电流分辨率
- 直接三芯同轴连接简化了设置
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