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IM3523 LCR测试仪


测量频率40Hz - 200kHz的LCR测试仪 应用于生产线和自动化测试领域的理想选择

所属分类:

元器件参数测试

日置HIOKI

品牌:

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    • 品牌: 日置HIOKI
    • 商品名称: IM3523 LCR测试仪

    测量频率40Hz - 200kHz的LCR测试仪 应用于生产线和自动化测试领域的理想选择

    ● 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
    ● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。
    ● 内置比较器和BIN功能
    ● 2ms的快速测试时间

     

    本产品不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接:交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637,不需要硬件控制器。

  • 基本参数

    测量模式 LCR,连续测试
    测量参数 Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
    测量量程 100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
    可显示量程 Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
    ± (0.000000 [单位]* ~9.99999G [单位])(*为最高分辩率时的显示位数)
     只有 Z和Y显示真有效值
    θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999)
    Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%)
    基本精度 Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
    测量频率 40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz)
    测量信号电平 正常模式
    V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms
    CC模式: 10μA~50mArms,10μArms
    输出阻抗 正常模式:100Ω
    显示 单色LCD
    测量时间 2ms(1kHz,FAST,代表值)
    功能 比较器,分类测量(BIN功能),面板读取/保存、存储功能
    接口 EXT I/O(处理器),USB通信(高速)
    选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一
    电源 100~240V AC,50/60Hz,最大50VA
    尺寸及重量 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
    附件 电源线×1,使用说明书×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1
  • HIOKI LCR测试仪 IM3523,IM3533产品样本

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IM3533 LCR测试仪