HIOKI IM3536是可灵活应用于研究开发到产线等领域，追求高性价比的LCR测试仪。IM3536实现了从1mΩ开始的精度保证范围。并且，频率带宽也扩大到8MHz，与以往产品相比测量对象范围更广。与以往产品相比反复精度提高一位。
最适用于电解电容的低ESR测量或追求高频率特性的电源线圈的阻抗测量等。因为有大范围的测量条件最适用于研发和实际使用条件下的评估。通过变化频率分析线圈的共振点，对有信号依存性的被测物的评估进行可变测量信号的实测等，能够在大范围内改变测量条件。
HIOKI IM3536 LCR测试仪特点：
※ DC，4Hz~8MHz测量频率，今后的标杆产品
※ 测量频率DC，4Hz~8MHz
※ 测量时间：最快1ms
※ 基本精度：±0.05% rdg
※ 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量
※ 可内部发生DC偏压测量
※ 从研发到生产线活跃在各种领域中
HIOKI IM3536 LCR测试仪参数：
| 测量模式 |
LCR（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量） |
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测量参数
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Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε |
| 测量量程 |
100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定） |
| 显示范围 |
Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等 |
| 基本精度 |
Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ） |
| 测量频率 |
4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进) |
| 测量信号电平 |
[V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (最大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (最大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (最大100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (最大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (最大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (最大1 V)
[直流电阻测量]: 1 V固定 |
| DC偏压 |
发生范围：DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V) |
| 输出阻抗 |
通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω |
| 显示 |
彩色TFT5.7英寸，触摸屏 |
| 功能 |
比较器、BIN测量（2个项目10种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能 |
| 接口 |
EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出 |
| 电源 |
AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
| 体积及重量 |
330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg |
| 附件 |
电源线×1,使用说明书×1,CD-R（通讯说明书，LCR应用光盘）×1 |
日本日置HIOKI IM3536 LCR测试仪说明书
